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服部 高典; 片山 芳則; 町田 晃彦; 大友 季哉*; 鈴谷 賢太郎
no journal, ,
高密度水素状態における物質中の水素位置及びそれらが及ぼす材料物性への影響を調べるため、中性子全散乱装置NOVAで中性子高圧実験を行うための高圧装置を製作した。高圧装置は、最大加重200トンを印加できるParis-Edingburgh press(VX4),アライメントステージ,油圧コントロールユニット,真空槽の外から内部を観察できるCCDカメラ、及び真空槽の隔壁となるフランジからなる。この装置を用いることで約20万気圧(20GPa)の圧力下において、
Q/Q=0.6%の分解能で、1
40Aに渡る広いQ空間のデータを測定することができ、高密度に水素を含む物質の構造を0.16Aの実空間分解能で調べることが可能となる。
戸出 真由美; Harries, J.; 寺岡 有殿; 吉越 章隆
no journal, ,
水素貯蔵合金表面の自然皮膜の熱安定性は、水素の吸収や脱離に影響を与える特性である。本研究では、TiFe表面皮膜の熱変性過程をX線放射光光電子分光法で調べた。実験はSPring-8の原子力機構専用軟X線ビームライン(BL23SU)に設置した表面反応分析装置(SUREAC2000)を用いて行った。TiFeを熱処理すると、酸化状態を示すピークが弱くなり、金属状態を示すピークが強くなる。表面に重水素イオンを注入すると、自然酸化膜の変質温度が200
C程度低くなる結果が得られた。
鎌倉 望
no journal, ,
リチウムアミドは絶縁体であることから価電子帯占有準位の測定を軟X線発光分光によって行い、軟X吸収分光による非占有準位の結果と合わせて電子状態に関する研究を進めた。N 1s吸収分光と入射光エネルギー425eVによる発光分光測定からN 2pの占有準位,非占有準位の部分状態密度を調べた。実験によって得られた軟X線発光・吸収スペクトルには絶縁体であるリチウムアミドのバンドギャップが占有準位と非占有準位の間に観測されており、発光スペクトルで得られた占有準位のN 2p部分状態密度は3ピークが価電子帯topから8eVの範囲に広がっている。これまでに報告されているリチウムアミドの電子状態に関する理論計算では、Liとアミドの間がアミドへの電荷移動を伴ったイオン結合であり、占有準位はおもにアミド基内におけるNとHの共有結合によって形成されていることが示されている。今回実験的に得られたN 2p部分状態密度の特徴は報告されているこれらの理論計算と一致した傾向を示している。また計算による部分状態密度との比較から、発光スペクトルで観測されている高結合エネルギー側の状態はNとHの混成状態であることがわかる。発表では高結合エネルギー側に観測されたアミド内でのN 2pとH 1sとの混成状態やLiとアミドとの相互作用について議論する。